2007年7月12日 星期一
蘭宇科技分類列表
涂鍍層測厚儀
超聲波測厚儀
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涂層測厚儀探頭F1
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涂層測厚儀探頭F1
涂鍍層測厚儀
蘭宇科技涂層測厚儀與北京時代/德國EPK/易高等同類相比的優點:1測量速度快比時代TT系列快6倍;比EPK等進口產品還快一倍2精度高 :本公司產品簡單校0后精度即可達到1-2%是目前市場上唯一能達到A級的產品,其精度遠高于時代等國內同類.比EPK等進口產品精度也高3穩定性(測量值的穩定性和使用穩定性)比時代等國內所有產品都好的多,也優于進口產品。4功能、數據、操作、顯示全部是中文5保修3年
F1型探頭采用磁性法,可測量磁性金屬基礎(如鋼、鐵、合金和硬磁性鋼等)上非磁性覆蓋層的厚度(如鋅、鋁、鉻、銅、橡膠、油漆等)。
測量原理:磁性 
測量范圍:0-1250um
測量精度:一點校準: ±(3%H+1)     兩點校準: ±(1%H+1)
低限分辨率: 0.1 
最小曲率半徑(凸): 1.5
最小面積直徑:φ7
基體臨界厚度:0.5
 
1,800.00元/套 
0.00元/套
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